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標準簡介：本標準規(guī)定了兩種方法，用于測定ＡＥＳ和ＸＰＳ譜儀強度標在容許線性離散限度范圍內(nèi)的較大計數(shù)率。它也包括校正強度非線性的方法，以便那些譜儀可使用更高的較大計數(shù)率，對于這些譜儀相關的校正公式已被證明是有效的。
標準號：GB/T 21006-2007
標準名稱：表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性
英文名稱：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2007-07-31
實施日期：2008-03-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>計算機>>L67計算機應用
國際標準分類號（ICS）：信息技術、辦公機械設備>>信息技術應用>>35.240.70 信息技術在自然科學中的應?化工技術>>分析化學>>71.040.4
起草單位：中國科學院化學研究所、中國計量科學研究院
歸口單位：全國微束標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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