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x射線電子檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構，嚴格按照x射線電子檢測相關標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。
涉及x射線 電子的標準有105條。
國際標準分類中，x射線 電子涉及到分析化學、電子元器件綜合、光學和光學測量、電學、磁學、電和磁的測量、長度和角度測量、光學設備、醫(yī)療設備、無損檢測、醫(yī)學科學和保健裝置綜合、輻射防護、計量學和測量綜合、耐火材料、環(huán)保、保健和安全。
在中國標準分類中，x射線 電子涉及到基礎標準與通用方法、電子元件綜合、電子光學與其他物理光學儀器、綜合測試系統、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯用裝置、基礎標準與通用方法、化學、化學助劑基礎標準與通用方法、醫(yī)用電子儀器設備、、物理學與力學、光學測試儀器、電化學、熱化學、光學式分析儀器、輻射防護儀器、硅質耐火材料、基礎標準與通用方法、基礎標準與通用方法、顏料、基礎標準與通用方法、標準化、質量管理。
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線 電子的標準
GB/T 41064-2021表面化學分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中深度剖析濺射速率的方法
GB/T 41073-2021表面化學分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求
GB/T 39560.301-2020電子電氣產品中某些物質的測定 第3-1部分：X射線熒光光譜法篩選鉛、汞、鎘、總鉻和總溴
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線 電子的標準
GB/T 33352-2016電子電氣產品中限用物質篩選應用通則X射線熒光光譜法
國家質檢總局，關于x射線 電子的標準
GB/T 32869-2016納米技術 單壁碳納米管的掃描電子顯微術和能量色散X射線譜表征方法
GB/T 20726-2015微束分析電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數及核查方法
GB/T 31470-2015俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應樣品區(qū)域的通則
GB/T 30702-2014表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
GB/T 29556-2013表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
GB/T 28893-2012表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結果所需的信息
GB/T 28632-2012表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
GB/Z 21277-2007電子電氣產品中限用物質鉛、汞、鉻、鎘和溴的快速篩選.X射線熒光光譜法
GB/T 21006-2007表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性
GB/T 17359-1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
行業(yè)標準-醫(yī)藥，關于x射線 電子的標準
YY 9706.268-2022醫(yī)用電氣設備 第2-68部分：電子加速器、輕離子束治療設備和放射性核素射束治療設備用的X射線圖像引…
國際標準化組織，關于x射線 電子的標準
ISO 17109:2022表面化學分析.深度剖面.用單層和多層薄膜在X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中測定濺射速率的方法
ISO 20903:2019表面化學分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
ISO 22489:2016微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
ISO 18554:2016表面化學分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
ISO 19830:2015表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求
ISO 17109:2015表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
ISO 18118:2015表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性因子的使用指南
ISO 17470:2014微束分析. 電子探針微量分析. 用波長色散X射線光譜測定法定性點分析指南
ISO 20903:2011表面化學分析.俄歇電子能普和X射線光電子光譜.通報結果所需峰值強度和信息的測定方法
ISO 22489:2006微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
ISO 18516:2006表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
ISO 20903:2006表面化學分析.螺旋電子光譜法和X-射線光電光譜學.報告結果時測定峰強度的方法和必要信息的使用方法
ISO 17470:2004微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質量點的指南
ISO 21270:2004表面化學分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
ISO 18118:2004表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性因子的使用指南
ISO/TR 19319:2003表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
美國材料與試驗協會，關于x射線 電子的標準
ASTM E1217-11(2019)用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標準實踐
ASTM E996-19俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規(guī)程
ASTM E996-10(2018)俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規(guī)程
ASTM E1588-17采用掃描電子顯微術/能量散射X射線光譜法進行射擊殘留物分析的標準實施規(guī)程
ASTM E995-16俄歇電子光譜和X射線光電子能譜背景減法技術標準指南
ASTM E2108-16X射線光電子能譜儀的電子結合能量標尺的標準實踐
ASTM E1588-16a采用掃描電子顯微術/能量散射X射線光譜法進行射擊殘留物分析的標準實施規(guī)程
ASTM E1588-16采用掃描電子顯微術/能量散射X射線光譜法進行射擊殘留物分析的標準指南
ASTM E995-11在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應用背景消除技術的標準指南
ASTM E1217-11用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號樣品面積的標準操作規(guī)程
ASTM E996-10俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規(guī)程
ASTM E1588-10e1掃描電子顯微術/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標準指南
ASTM E2108-10用X射線光電子分光計測定電子能量捆綁刻度的標準實施規(guī)程
ASTM E2108-05X-射線光電分光儀的電子結合能刻度表校準的標準實施規(guī)程
ASTM E1217-05用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號的樣品面積的標準實施規(guī)范
ASTM E995-04螺旋電子光譜法和X射線光電光譜法中減去背景技術的標準指南
ASTM E996-04俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規(guī)程
ASTM E1217-00用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號的樣品面積的標準實施規(guī)范
ASTM E2108-00X射線光電子分光儀的電子結合能刻度表的校準的標準操作規(guī)程
ASTM E996-94(1999)俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數據報告的標準規(guī)程
，關于x射線 電子的標準
SIS SS-ISO 8963:1990能量在8千電子伏特至1.3兆電子伏特范圍內的輻射防護用X及γ射線相關輻射量測定器
英國標準學會，關于x射線 電子的標準
BS ISO 22489:2016微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點分析
BS ISO 18554:2016表面化學分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
BS ISO 19830:2015表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求
BS ISO 17109:2015表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
BS EN 60601-2-68-2015醫(yī)療電氣設備. 與電子加速器, 光離子束治療設備以及放射性核素束治療設備共同使用的基于X射線影像引導放射治療設備基本安全和基本性能的特殊要求
BS ISO 18118:2015表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性系數的使用指南
BS ISO 17470:2014微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長分散X射線光譜測定法的定性點分析指南
BS ISO 15632:2012微束分析. 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數
BS ISO 20903:2011表面化學分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學.測定峰強度的方法和報告結果要求的信息
BS ISO 22489:2007微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點分析
BS ISO 18516:2006表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
BS ISO 21270:2005表面化學分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強度標的線性度
BS ISO 18118:2005表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性系數的使用指南
BS EN 100012-1996電子元器件的質量評估協調體系.基礎規(guī)范.X射線檢驗電子元件
國際電工委員會，關于x射線 電子的標準
IEC 60601-2-68-2014醫(yī)用電氣設備.第2-68部分:與電子加速器、光離子束治療設備和放射性核素束治療設備一起使用的基于X射線的圖像引導放射治療設備的基本安全和基本性能的特殊要求
IEC 60601-2-68:2014醫(yī)療電氣設備. 第2-68部分: 與電子加速器, 輕離子束治療設備以及放射性核束治療設備一起使用的基于X射線的圖像引導放射治療設備的基本安全和基本性能的特殊要求
廣東省標準，關于x射線 電子的標準
DB44/T 1215-2013利用掃描電子顯微術和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性
DB44/T 1216-2013利用掃描電子顯微術和X射線能譜法表征石墨烯的特性
日本工業(yè)標準調查會，關于x射線 電子的標準
JIS K0189-2013微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學用實驗參數的測定
JIS K0167-2011表面化學分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學.勻質材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南
JIS K0190-2010微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對質量點分析用指南
韓國標準，關于x射線 電子的標準
KS D ISO 22489:2012微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
KS D ISO 19319:2005表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
KS D ISO 21270:2005表面化學分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
KS D ISO 18118:2005表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性因子的使用指南
法國標準化協會，關于x射線 電子的標準
NF X21-061-2008表面化學分析.螺旋電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
NF B40-670-3-2007硅酸鋁耐火材料的化學分析(可選擇X射線熒光法).第3部分:感應耦合等電子體和原子吸收光譜測定法
NF X21-006-2007微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法進行塊狀樣品的定量點分析
NF X21-058-2006表面化學分析.俄歇電子能譜學和X射線光電子光譜法.測定峰強度使用的方法和報告結果時需要的信息
NF X21-003-2006微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測量法定量分析指南
美國國家標準學會，關于x射線 電子的標準
ANSI N43.3-2008一般輻射安全.用于非醫(yī)療的X射線和密封γ射線源輻射安全能量小于10Mev(兆電子伏特)的裝置
ANSI N43.3-1993普通輻射安全用美國國家標準.利用非醫(yī)療X射線和密封γ射線源的輻射能量*高達10Mev(兆電子伏特)的裝置
行業(yè)標準-商品檢驗，關于x射線 電子的標準
SN/T 2003.4-2006電子電氣產品中鉛、汞、鉻、鎘和溴的測定.第4部分:能量色散X射線熒光光譜定性篩選法
SN/T 2003.5-2006電子電氣產品中鉛、汞、鉻、鎘和溴的測定 第5部分：能量色散X射線熒光光譜定量篩選法
SN/T 2003.3-2006電子電氣產品中鉛、汞、鎘、鉻和溴的測定.第3部分:X射線熒光光譜定量篩選法
SN/T 2003.1-2005電子電氣產品中鉛、汞、鎘、鉻、溴的測定 第1部分:X射線熒光光譜定性篩選法
福建省地方標準，關于x射線 電子的標準
DB35/T 110-2000油漆物證檢測電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法
歐洲電工標準化委員會，關于x射線 電子的標準
EN 100012-1995基本規(guī)范:電子元器件的X射線檢測
行業(yè)標準-航天，關于x射線 電子的標準
QJ 2689-1994電子元器件中多余物的X射線照相檢驗方法
行業(yè)標準-電子，關于x射線 電子的標準
SJ/T 10458-1993俄歇電子能譜術和X射線光電子能譜術的樣品處理標準導則
澳大利亞標準協會，關于x射線 電子的標準
AS ISO 18118:2006表面化學分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質材料定量分析中實驗測定的相對靈敏系數使用指南
AS ISO 19319:2006表面化學分析．Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法．分析員對橫向分辨率；分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
檢測報告有效期
一般x射線電子檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。
檢測費用價格
需要根據檢測項目、樣品數量及檢測標準而定，請聯系我們確定后報價。
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測問題請咨詢客服。
