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檢測項目及執(zhí)行標準一覽表
| 序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 |
|---|---|---|---|
| 1 | ?霍爾接近開關傳感器 JB∕T?12785-2016 6.4 | 半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路 | 動作點磁感應強度B<Sub>op |
| 2 | ?霍爾接近開關傳感器 JB∕T?12785-2016 | 半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路 | 磁感應強度B<Sub>op |
| 3 | 半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字電路 GB/T17574-1998 | 半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路 | 輸出低電平電壓V<Sub>OL |
| 4 | 半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第2節(jié)1 | 半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路 | 輸出低電平電壓V<Sub>OL |
| 5 | 半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字電路 GB/T17574-1998 | 半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路 | 輸出漏電流I<Sub>OH |
| 6 | 半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第2節(jié) 7 | 半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路 | 輸出高阻態(tài)電流I<Sub>OZ |
| 7 | 半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第2節(jié)4 | 半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路 | 靜態(tài)條件下的電源電流 |
| 8 | 微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005 | 半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路 | 靜態(tài)電源電流I<Sub>S |
檢測時間周期
一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據(jù)半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認需求；
2、推薦方案、確認報價；
3、郵寄樣品、安排檢測；
4、進度跟蹤、結果反饋；
5、出具報告、售后服務；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關于《半導體集成電路霍爾效應數(shù)字開關電路檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。
